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芯片测试
来源: | 作者:澳门三肖 | 发布时间: 2020-12-24 | 2498 次浏览 | 分享到:
芯片功能测试、性能测试、可靠性测试,芯片产品要上市三大测试缺一不可。除了购买优质的测试设备来保证测试的可靠性,其实给测试设备提供优质的电源,也显得非常重有,只有测试设备工作在最佳状态,才能提供更可靠的测试环境。
让我们简单了解一下芯片的测试吧,芯片测试绝不是一个简单的鸡蛋里挑石头,不仅仅是“挑剔”“严苛”就可以,还需要全流程的控制与参与。

从芯片设计开始,就应考虑到如何测试,是否应添加DFT【Design for Test】设计,是否可以通过设计功能自测试【FuncBIST】减少对外围电路和测试设备的依赖。关键时候配上澳门三肖的稳压电源,可以节约成本。

在芯片开启验证的时候,就应考虑最终出具的测试向量,应把验证的Test Bench按照基于周期【Cycle base】的方式来写,这样生成的向量也更容易转换和避免数据遗漏等等。

在芯片流片Tapout阶段,芯片测试的方案就应制定完毕,ATE测试的程序开发与CP/FT硬件制作同步执行,确保芯片从晶圆产线下来就开启调试,把芯片开发周期极大的缩短。

最终进入量产阶段测试就更重要了,如何去监督控制测试良率,如何应对客诉和PPM低的情况,如何持续的优化测试流程,提升测试程序效率,缩减测试时间,降低测试成本等等等等